低溫試驗(yàn)箱、恒溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。 　　該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

進(jìn)口智能溫濕度控制器，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。 　　資料及試驗(yàn)條件輸入后，恒溫試驗(yàn)箱控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。 　　具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。 　　可選配打印機(jī)和接電腦。
低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
　　溫度范圍：室溫+10℃～150℃ 　　濕度范圍：85%～98％R.H 　　溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃ 　　溫度均勻度：≤2℃


低溫試驗(yàn)箱是以下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)制造 　　GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 　　GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 　　GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法 　　GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則。
低溫試驗(yàn)箱、恒溫試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。